研究者業績
基本情報
- 所属
- 国立研究開発法人宇宙航空研究開発機構 宇宙科学研究所 特任教授
- 学位
- 工学博士(早稲田大学)工学修士
- J-GLOBAL ID
- 200901096979972445
- researchmap会員ID
- 1000192906
学歴
2-
- 1983年
-
- 1981年
委員歴
14受賞
6論文
61-
Journal of Evolving Space Activities 1 2024年4月 査読有り
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Journal of Evolving Space Activities 1 2023年12月 査読有り
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IEEE Transactions on Nuclear Science 1-1 2023年
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2022 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS) 2022年3月27日
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The Journal of Physical Chemistry C 125(24) 13131-13137 2021年6月24日
MISC
284-
JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS 56(8) 2017年8月
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2014 IEEE 40TH PHOTOVOLTAIC SPECIALIST CONFERENCE (PVSC) 2161-2165 2014年
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電子情報通信学会ソサイエティ大会講演論文集 2013(2) 88-88 2013年9月3日
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電子情報通信学会ソサイエティ大会講演論文集 2013(2) 99-99 2013年9月3日
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電子情報通信学会技術研究報告. SANE, 宇宙・航行エレクトロニクス 112(229) 17-22 2012年10月3日Japan Aerospace Exploration Agency (JAXA) has been developing an X-ray astronomy satellite named "ASTRO-H", which will be launched in 2014. This paper provides a summary of the design overview and development status of an electrical power subsystem for ASTRO-H. The subsystem consists of rigid solar array paddles that generate approximately 3500W at the end of life of the system, a power control unit that delivers an unregulated 50V bus power supply, shunt dissipators, battery charge control units, two 100-Ah Li-ion batteries, and a non-explosive actuator controller. Currently, manufacturing and verification tests for the satellite system have been implemented for the launch.
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日本航空宇宙学会誌 = Journal of the Japan Society for Aeronautical and Space Sciences 59(689) 175-183 2011年6月5日
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日本航空宇宙学会誌 = Journal of the Japan Society for Aeronautical and Space Sciences 59(688) 149-154 2011年5月5日
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THIN SOLID FILMS 519(13) 4216-4219 2011年4月
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電子情報通信学会技術研究報告. SANE, 宇宙・航行エレクトロニクス 110(308) 53-58 2010年11月19日宇宙用途と民生用途のデュアルユースの半導体集積回路の技術的開発と設計生産体制が完成したので報告する.0.2μm完全空乏型SOIプロセスをべースに,回路技術により放射線耐性を付加させた.宇宙用途高温耐性や信頼性が必要な建設機器や,自動車などとの共用が考えられる.
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電子情報通信学会ソサイエティ大会講演論文集 2010 "SS-30"-"SS-31" 2010年8月31日
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IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE 57(4) 1811-1819 2010年8月
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Physical Review B - Condensed Matter and Materials Physics 81(4) 045303 2010年1月8日
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表面科学 31(1) 30-34 2010年This article summarizes recent progress and current scientific understanding of atomic and/or electronic structures of ultrathin SiO<Sub>2</Sub> films and/or its interface with Si substrates in addition to the review of scientific achievements done in the past 30 years.
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Japanese Journal of Applied Physics 49(9) 091502-1-091502-3 2010年
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Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering 7732 77320Z 2010年
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JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS 49(9) 091502-1-091502-3 2010年
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JOURNAL OF ELECTRON SPECTROSCOPY AND RELATED PHENOMENA 176(1-3) 46-51 2010年1月
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IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE 56(6) 3180-3184 2009年12月
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IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE 56(6) 3043-3049 2009年12月
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IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE 56(4) 2014-2020 2009年8月
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IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE 56(4) 1958-1963 2009年8月
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JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS 48(3) 031201-1-031201-4 2009年3月
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IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE 56(1) 202-207 2009年2月
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Proceedings of The 3rd IAASS Conference 4 2009年
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2009 IEEE INTERNATIONAL RELIABILITY PHYSICS SYMPOSIUM, VOLS 1 AND 2 165-+ 2009年
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Proceedings of The 3rd International Association for the Advancement of Space Safety (IAASS) Conference 4 2009年
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IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE 55(6) 2872-2879 2008年12月
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APPLIED PHYSICS LETTERS 93(19) 193503 2008年11月
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電子情報通信学会技術研究報告 108(100) 67-72 2008年6月26日放射線によって論理LSI内に誘起されるスパイクノイズがソフトエラー源として顕在化してきている.論理LSIはチップ内部に多数のフリップフロップ(FF)やラッチ回路を保持しており,その記憶データが反転するとソフトエラーが起きる.論理LSIでは,放射線がFFやラッチ回路に当たってソフトエラーが起きるだけでなく,組み合わせ論理回路に当たって発生するスパイクノイズによってもソフトエラーが起きる.発生するスパイクノイズの長さが長くなるとソフトエラーの発生率が増加してしまう.そのため,スパイクノイズの放射線入射空LET依存性を測定した.また,放射線がFFやラッチ回路に当たって発生するソフトエラーだけでなく,組み合わせ論理回路に当たって発生するソフトエラー両方の影響をそれぞれ評価する必要がある.さらに各FFでどれだけデータが反転,すなわちソフトエラーが起きたか知る必要がある.これらの要求を満たす新しいLSIテスト技術を開発し,その妥当性を実証した.
-
JOURNAL OF POWER SOURCES 181(1) 149-154 2008年6月
書籍等出版物
8講演・口頭発表等
34-
33rd International Symposium on Space Technology and Science 2022年
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33rd International Symposium on Space Technology and Science 2022年
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International Symposium on Solar Energy and Efficient Energy Usage (11th SOLARIS 2021) 2021年9月29日
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The 30th International Photovoltaic Science and Engineering Conference (PVCEC-30) 2020年11月11日
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2019 International Workshop on DIELECTRIC THIN FILMS FOR FUTURE ELECTRON DEVICES -SCIENCE AND TECHNOLOGY- (IWDTF 2019) 2019年11月18日
所属学協会
1共同研究・競争的資金等の研究課題
16-
日本学術振興会 科学研究費助成事業 基盤研究(C) 2017年4月 - 2020年3月
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日本学術振興会 科学研究費助成事業 基盤研究(C) 2014年4月 - 2017年3月
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文部科学省 「未来社会実現のための ICT 基盤技術の研究開発」 「イノベーション 創出を支える情報基盤強化のための新技術開発」委託研究 2012年 - 2016年
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日本学術振興会 科学研究費助成事業 2012年4月 - 2015年3月
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日本学術振興会 科学研究費助成事業 基盤研究(B) 2009年 - 2011年
● 指導学生等の数
1-
年度2018年度(FY2018)博士課程学生数東大生 1名修士課程学生数東大生 2名受託指導学生数2名技術習得生の数3名
● 指導学生の表彰・受賞
1-
指導学生名東口 紳太郎所属大学東京大学受賞内容(タイトル、団体名等)the 2017 RADECS sponsorship受賞年月日2017.10
● 指導学生の顕著な論文
12-
指導学生名萩本賢哉所属大学東京大学著者名, ジャーナル名, 巻号ページ(出版年)Y. Hagimoto, H. Fujioka, M. Oshima , and K. Hirose, Applied Physics Letters, 77(25), pp. 4175-4177 (2000)論文タイトルCharacterizing carrier-trapping phenomena in ultrathin SiO2 films by using the x-ray photoelectron spectroscopy time-dependent measurementsDOIhttp://doi.org/10.1063/1.1334657
-
指導学生名榎本貴志所属大学名古屋大学著者名, ジャーナル名, 巻号ページ(出版年)T. Emoto,, K. Akimoto, A. Ichimiya, K. Hirose, Applied Surface Science, 190(1-4), pp. 113-120 (2002)論文タイトルStrain due to nickel diffusion into hydrogen-terminated Si(1 1 1) surfaceDOIhttps://doi.org/10.1016/S0169-4332(01)00852-2
-
指導学生名高橋健介所属大学武蔵工業大学著者名, ジャーナル名, 巻号ページ(出版年)K. Takahashi, H. Nohira, K. Hirose, and T. Hattori, Applied Physics Letters 83(16), pp. 3422-3424 (2003)論文タイトルAccurate determination of SiO2 film thickness by x-ray photoelectron spectroscopyDOIhttps://doi.org/10.1063/1.1616204
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指導学生名柳川善光所属大学東京大学著者名, ジャーナル名, 巻号ページ(出版年)Y. Yanagawa, K. Hirose, H. Saito, D. Kobayashi, S. Fukuda, S. Ishii, D. Takahashi, K. Yamamoto, and Y. Kuroda, IEEE Transactions on Nuclear Science, 53 (6) pp. 3575-3578 (2006)論文タイトルDirect measurement of SET pulse widths in 0.2-μm SOI logic cells irradiated by heavy ions
-
指導学生名牧野高紘所属大学総合研究大学院大学著者名, ジャーナル名, 巻号ページ(出版年)T. Makino, D. Kobayashi, K. Hirose, Y. Yanagawa, H. Saito, D. Takahashi, S. Ishii, M. Kusano, S. Onoda, T. Hirao, and T. Ohshima, IEEE Transactions on Nuclear Science, 56 (1) pp. 202-207 (2009)論文タイトルLET dependence of single event transient pulse-widths in SOI logic cellDOIhttps://doi.org/10.1109/TNS.2008.2009054
-
指導学生名津川和夫所属大学早稲田大学著者名, ジャーナル名, 巻号ページ(出版年)K. Tsugawa, H. Noda, K. Hirose, and H. Kawarada, Physical Review B, 81 pp. 045303-1-0045303-11 (2010)論文タイトルSchottky barrier heights, carrier density, and negative electron affinity of hydrogen-terminated diamondDOIhttps://doi.org/10.1103/PhysRevB.81.045303
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指導学生名近田旬佑所属大学早稲田大学著者名, ジャーナル名, 巻号ページ(出版年)S. Chikada, K. Hirose, and T. Yamamoto, Japanese Journal of Applied Physics, 49 pp. 091502-1-091502-3 (2010)論文タイトルAnalysis of local environment of Fe ions in hexagonal BaTiO3DOIhttps://doi.org/133.74.120.63 on 04/02/2021
-
指導学生名金盛治人所属大学早稲田大学著者名, ジャーナル名, 巻号ページ(出版年)H. Kanamori, T. Yoshioka, K. Hirose, and T. Yamamoto, Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena, 185 pp. 129-132 (2012)論文タイトルDetermination of valence state of Mn ions in Pr1-xAxMnO3-δ (A = Ca, Sr) by Mn-L3 X-ray absorption near-edge structure analysisDOIhttps://doi.org/10.1016/j.elspec.2012.03.003
-
指導学生名元木啓介所属大学早稲田大学著者名, ジャーナル名, 巻号ページ(出版年)K. Motoki, Y. Miyazawa, D. Kobayashi, M. Ikegami, T. Miyasaka, T. Yamamoto, and K. Hirose, Journal of Applied Physics, 121 (8) pp. 085501-1-085501-4 (2017)論文タイトルDegradation of CH3NH3PbI3 perovskite due to soft x-ray irradiation as analyzed by an x-ray photoelectron spectroscopy time-dependent measurement methodDOIhttps://doi.org/10.1063/1.4977238
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指導学生名井辻宏章所属大学東京大学著者名, ジャーナル名, 巻号ページ(出版年)H. Itsuji, D. Kobayashi, O. Kawasaki, D. Matsuura, T. Narita, M. Kato, S. Ishii, K. Masukawa, and K. Hirose, IEEE Transactions on Nuclear Science, 65 (1) pp. 346-353 (2018)論文タイトルLaser visualization of the development of long line-type multi-cell upsets in back-biased SOI SRAMsDOIhttps://doi.org/10.1109/TNS.2017.2776169
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指導学生名山口記功所属大学早稲田大学著者名, ジャーナル名, 巻号ページ(出版年)K. Yamaguchi, D. Kobayashi, T. Yamamoto, and K. Hirose, Physica B, 532 pp. 99-102 (2018)論文タイトルTheoretical investigation of the breakdown electric field of SiC polymorphsDOIhttps://doi.org/10.1016/j.physb.2017.03.042
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指導学生名チョン チンハン所属大学東京大学著者名, ジャーナル名, 巻号ページ(出版年)C-H. Chung, D. Kobayashi, and K. Hirose, IEEE Transactions on Device and Materials Reliability, 18 (4) pp. 574-582 (2018)論文タイトルResistance-based modeling for soft errors in SOI SRAMs caused by radiation-induced potential perturbation under the BOXDOIhttps://doi.org/10.1109/TDMR.2018.2873220
● 専任大学名
2-
専任大学名総合研究大学院大学(SOKENDAI)
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専任大学名東京大学(University of Tokyo)
● 所属する所内委員会
8-
所内委員会名電子部品デバイス・電源グループ
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所内委員会名宇宙科学技術・専門統括
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所内委員会名宇宙科学基盤技術統括
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所内委員会名宇宙機応用工学研究系
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所内委員会名運営協議会委員
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所内委員会名知財委員
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所内委員会名研究所会議構成員
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所内委員会名宇宙工学委員会委員