著者名, ジャーナル名, 巻号ページ(出版年)
T. Makino, D. Kobayashi, K. Hirose, Y. Yanagawa, H. Saito, D. Takahashi, S. Ishii, M. Kusano, S. Onoda, T. Hirao, and T. Ohshima, IEEE Transactions on Nuclear Science, 56 (1) pp. 202-207 (2009)
論文タイトル
LET dependence of single event transient pulse-widths in SOI logic cell
DOI
https://doi.org/10.1109/TNS.2008.2009054