研究者検索結果一覧 小林 大輔 小林 大輔コバヤシ ダイスケ (Daisuke KOBAYASHI) ダウンロードする帳票の形式を下記より選択して下さい 「教育研究等環境」形式 「文科省帳票様式第4号 ①履歴書」形式 「文科省帳票様式第4号 ②教育研究業績書」形式 基本情報 所属国立研究開発法人宇宙航空研究開発機構 宇宙科学研究所 宇宙機応用工学研究系 准教授学位博士(科学)(2005年3月 東京大学)研究者番号90415894ORCID ID https://orcid.org/0000-0002-0140-8820J-GLOBAL ID200901096574214055researchmap会員ID5000089715私たちの生活になくてはならないコンピュータとそこで計算を担当するコンピュータチップ.これらに対して私たちは「いつも正確で信頼できる」と言う印象を持っていますが,実はそれは多くの研究者達の努力の成果ということ,ご存知でしたか?突然のショックにびっくりして記憶を失ってしまう繊細なチップを,そうならないように鍛え上げる努力がなされています.びっくりして記憶を失ってしまう様子は,専門的には「ソフトエラー」とか「シングルイベントアップセット」と呼ばれますが,これらの専門用語からは何が起きているかイメージしにくいので,私は「びっくりするコンピュータ」と呼んでいます.びっくりさせる原因は何でしょうか.いくつかありますが,宇宙で光る星はその一つです.高いエネルギーを持った目に見えない星のかけらがそこから飛び出して宇宙空間を飛んでいます.地球に届くものもあります.それらがコンピュータチップ にショック(具体的には電気ショック)を与えてしまいます.研究者達はコンピュータを安心して使えるように,そのショックへの対策を考えています.地上の事を専門に考える研究者と宇宙の事を専門に考える研究者がいて,お互い情報を交換しながら取り組んでいます.私は,今はJAXA宇宙研で働いているので宇宙の事を主に考えています.宇宙でコンピュータを使うには,びっくりする事以外にも考えないといけないことがあります.これは「ぐったりするコンピュータ」と呼んでいます.それらをまとめて「スペースチップ工学」と呼びましょうか.これが現在の私の研究テーマです. 研究キーワード 11 びっくりするコンピュータ ぐったりするコンピュータ 宇宙電子工学 スペースチップ工学 極限環境IoT ソフトエラー 宇宙線 放射線 信頼性 大規模集積回路 センサ・半導体デバイス 研究分野 1 ものづくり技術(機械・電気電子・化学工学) / 電子デバイス、電子機器 / 経歴 8 2023年4月 - 現在 東京大学大学院 工学系研究科 電気系工学専攻 准教授 2019年11月 - 現在 国立研究開発法人宇宙航空研究開発機構 宇宙科学研究所 宇宙機応用工学研究系 准教授 2017年7月 - 現在 国立研究開発法人宇宙航空研究開発機構 研究開発部門 第一研究ユニット 2020年3月 - 2023年3月 総合研究大学院大学 物理科学研究科 准教授 2011年4月 - 2019年12月 東京大学大学院 工学系研究科 電気系工学専攻 助教 もっとみる 学歴 2 2000年4月 - 2005年3月 東京大学 大学院新領域創成科学研究科 基盤情報学専攻 1996年4月 - 2000年3月 東京大学 工学部 電子工学科 委員歴 1 2013年 - 2020年3月 科学技術専門家ネットワーク 専門調査員 受賞 8 2022年 IEEE Nuclear and Space Radiation Effects Conference Outstanding Conference Paper Award An SRAM SEU Cross Section Curve Physics Model D. Kobayashi, K. Hirose, K. Sakamoto, Y. Tsuchiya, S. Okamoto, S. Baba, H. Shindou, O. Kawasaki, T. Makino, T. Ohshima 2019年 IEEE Nuclear and Space Radiation Effects Conference Award Basics of single event effect mechanisms and predictions IEEE Nuclear and Space Radiation Effects Conference Committee 小林 大輔 2018年 応用物理学会シリコンテクノロジー分科会論文賞 Heavy-ion soft-errors in back-biased thin-BOX SOI SRAMs: Hundredfold sensitivity due to line-type multi-cell upset 応用物理学会 シリコンテクノロジー分科会 小林 大輔, 廣瀬 和之, 伊藤 大智, 梯 友哉, 川崎 治, 牧野 高紘, 大島 武, 松浦 大介, 成田 貴則, 加藤 昌浩, 石井 茂, 益川 一範 2015年 宇宙科学研究所長賞 超小型深宇宙探査機(PROCYON)の開発 国立研究開発法人宇宙航空研究開発機構・宇宙科学研究所 冨木 淳史, 福島 洋介, 川勝 康弘, 小林 雄太, 中塚 潤一, 三田 信, 小林 大輔, 野々村 拓, 伊藤 大智, 伊藤 琢博 2011年 宇宙科学奨励賞 宇宙機用LSIの動作を阻害する放射線パルスノイズの解明とモデル化 公益財団法人宇宙科学振興会 小林 大輔 もっとみる 論文 46 査読付き学術雑誌論文のみ掲載 2222年 Threshold and Characteristic LETs in SRAM SEU Cross-Section Curves Daisuke Kobayashi, Masashi Uematsu, Kazuyuki Hirose IEEE Transactions on Nuclear Science 70(4) 707-713 2023年4月 査読有り筆頭著者責任著者 An SRAM SEU Cross Section Curve Physics Model Daisuke Kobayashi, Kazuyuki Hirose, Keita Sakamoto, Yuta Tsuchiya, Shogo Okamoto, Shunsuke Baba, Hiroyuki Shindou, Osamu Kawasaki, Takahiro Makino, Takeshi Ohshima IEEE Transactions on Nuclear Science 68(3) 232-240 2022年3月 査読有り筆頭著者責任著者 Investigation of buried-well potential perturbation effects on SEU in SOI DICE-based flip-flop under proton irradiation Keita Sakamoto, Masaki Kusano, Takanori Narita, Shigeru Ishii, Kazuyuki Hirose, Shunsuke Baba, Daisuke Kobayashi, Shogo Okamoto, Hiroyuki Shindou, Osamu Kawasaki, Takahiro Makino, Yoshiharu Mori, Daisuke Matuura IEEE Transactions on Nuclear Science 68(6) 1222-1227 2021年 査読有り Scaling trends of digital single-event effects: A survey of SEU and SET parameters and comparison with transistor performance Daisuke Kobayashi IEEE Transactions on Nuclear Science 68(2) 124-148 2021年 査読有り筆頭著者責任著者 もっとみる MISC 5 Exploring magic equations for soft-error reliability Daisuke Kobayashi, Kazuyuki Hirose JSAP Review 2023 2023年9月2日 招待有り筆頭著者責任著者 魔法のソフトエラー信頼性方程式を探して 小林大輔, 廣瀬和之 応用物理 92(2) 89-93 2023年2月 宇宙で活躍する半導体デバイス 廣瀬和之, 小林大輔 応用物理 83(8) 655-659 2014年8月 宇宙・民生デュアルユースの半導体集積回路の開発—SOIデバイスの放射線耐性強化技術— 廣瀬 和之, 齋藤 宏文, 小林 大輔, 黒田 能克, 石井 茂, 高橋 大輔 日本航空宇宙学会誌 59(684) 8-14 2011年1月 宇宙用半導体部品とその耐放射線化技術 廣瀬 和之, 三ツ石 進, 小林 大輔 電気学会誌 129(11) 739-742 2009年11月 書籍等出版物 3 Predicting, Characterizing, and Mitigating SEE in Advanced Semiconductor Technologies (IEEE NSREC Short Course Notebook) Steven C. Moss, Daisuke Kobayashi, Arto Javanainen, Dale McMorrow, Stephen LaLumondiere, Manuel Cabanas-Holman (担当:分担執筆, 範囲:Basics of single event effect mechanisms and predictions) 2019年 電気特性の測定、評価とデータ解釈 廣瀬和之, 小林大輔 (担当:共著, 範囲:X線光電子分光による誘電率の推定法) 技術情報協会 2015年 ナノエレクロノニクスにおける絶縁超薄膜技術—成膜技術と膜・界面の物性科学 廣瀬和之, 小林大輔 (担当:共著, 範囲:X線光電子分光と第一原理分子軌道計算によるMOS界面局所構造の物性研究 誘電率と絶縁破壊) 株式会社エヌ・ティー・エス 2012年 講演・口頭発表等 65 Waveform observation of digital single-event transients employing monitoring transistor technique D. Kobayashi, K. Hirose, Y. Yanagawa, H. Ikeda, H. Saito, V. Ferlet, Cavrois, P. Paillet, D. McMorrow, Y. Arai, M. Ohno IEEE Nuclear and Space Radiation Effects Conference (NSREC) paper A-4 Scan-architecture-based evaluation technique of SET and SEU soft-error rates at each flip-flop in logic VLSI systems Y. Yanagawa, D. Kobayashi, H. Ikeda, H. Saito, K. Hirose Conference on Radiation Effects on Components and Systems (RADECS) paper A-4 Feasibility study of a table-based SET-pulse estimation in logic cells from heavy-ion-induced transient currents measured in a single MOSFET D. Kobayashi, K. Hirose, H. Ikeda, H. Saito IEEE Nuclear and Space Radiation Effects Conference (NSREC) paper H-6 Relationship between optical dielectric constant and XPS relative chemical shift of 1s and 2p levels for dielectric conpounds K. Hirose, H. Suzuki, H. Nohira, E. Ikenaga, D. Kobayashi, T. Hattori International Vacuum Congress, 13th International Conference on Surface Science, and International Conference on Nano Science and Technology Fast and physically-accurate estimation of single event transient pulses from radiation- induced transient currents measured in a single MOSFET: a simulation-based case study in bulk CMOS logic circuits D. Kobayashi, K. Hirose, H. Ikeda, H. Saito IEEE Workshop on Silicon Errors in Logic – System Effects (SELSE) High-k gate dielectric films studied by extremely asymmetric X-ray diffraction and X-ray photoelectron spectroscopy Y. Ito, K. Akimoto, H. Yoshida, T. Emoto, D. Kobayashi, K. Hirose International Workshop on Dielectric Thin Films for Future ULSI Devices – Science and Technology (IWDTF) paper P2-15 X-ray photoelectron spectroscopy study on dielectric properties of AlN and Al$_2$O$_3$ films K. Hirose, H. Suzuki, T. Matsuda, Y. Takenaga, H. Nohira, E. Ikenaga, D. Kobayashi, T. Hattori International Workshop on Dielectric Thin Films for Future ULSI Devices – Science and Technology (IWDTF) paper P1-5 X-ray photo-electron spectroscopy study on dielectric properties at gate insulator film/Si interfaces K. Hirose, H. Nohira, D. Kobayashi, T. Hattori International Conference on Solid-State and Integrated Circuit Technology 招待有り paper B2.3 Estimation of single event transient voltage pulses in VLSI circuits from heavy-ion-induced transient currents measured in a single MOSFET D. Kobayashi, H. Saito, K. Hirose Workshop on Radiation Effects on Components and Systems (RADECS) postdeadline paper LN-6 Direct measurement of SET pulse-widths in 0.2-$\mu$m SOI logic cells irradiated by heavy ions Y. Yanagawa, K. Hirose, H. Saito, D. Kobayashi, S. Fukuda, S. Ishii, D. Takahashi, K. Yamamoto, Y. Kuroda IEEE Nuclear and Space Radiation Effects Conference (NSREC) postdeadline paper PE-12L Time-domain component-analysis of heavy-ion-induced transient-currents in FD-SOI MOSFETs D. Kobayashi, M. Aimi, H. Saito, K. Hirose IEEE Nuclear and Space Radiation Effects Conference (NSREC) postdeadline paper PC-14L A convex-corner preservation principle in bulk micromachining and its application to nano-point needles Y. Mita, D. Kobayashi, T. Shibata International Conference on Solid-State Sensors, Actuators and Microsystems (Transducers ’03) High-precision metal-on-insulator micro spires for use in nonmagnetic-probe magnetic microscopy D. Kobayashi, Y. Mita, T. Shibata, T. Bourouina, H. Fujita, P. Beauvillain Micromechanics Europe Workshop (MME’03) A ferroelectric analog associative memory technology employing hetero-gate floating-gate-MOS structure D. Kobayashi, T. Shibata, Y. Fujimori, T. Nakamura, H. Takasu Symposium on VLSI Technology A fast self-convergent flash-memory programming scheme for MV and analog data storage T. Yamasaki, A. Suzuki, D. Kobayashi, T. Shibata IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS 2001) «12 担当経験のある科目(授業) 2 2023年 宇宙電気電子システム工学 (東京大学工学部) 2021年 宇宙工学概論 (総合研究大学院大学 物理科学研究科 宇宙科学専攻) 所属学協会 5 IEEE Electron Devices Society Japan Society of Applied Physics IEEE Nuclear and Plasma Sciences Society IEEE Solid-State Circuits Society Institute of Electronics, Information and Communication Engineers 共同研究・競争的資金等の研究課題 8 放射線を当てずに放射線ソフトエラー信頼性を評価する技術 日本学術振興会 科学研究費助成事業 基盤研究(B) 2023年4月 - 2026年3月 小林 大輔, 牧野 高紘 高信頼性LSIの開発コスト削減に向けたソフトエラー耐性スクリーニングの実現 日本学術振興会 科学研究費助成事業 基盤研究(B) 2020年4月 - 2023年3月 小林 大輔, 牧野 高紘 光電子分光法を用いた極薄SiO$_2$/Si界面の欠陥とアモルファス構造の研究 日本学術振興会 科学研究費助成事業 基盤研究(C) 2014年4月 - 2017年3月 廣瀬 和之, 野平 博司, 小林 大輔 放射線による過渡的な局所昇温現象とそのソフトエラー耐性への影響 日本学術振興会 科学研究費助成事業 基盤研究(C) 2012年4月 - 2015年3月 小林 大輔, 廣瀬 和之 硬X線光電子分光法と第一原理計算を用いた極薄酸化膜の光学的誘電率の研究 日本学術振興会 科学研究費助成事業 基盤研究(B) 2009年 - 2011年 廣瀬 和之, 野平 博司, 小林 大輔 もっとみる 産業財産権 5 特開2002-246487 半導体装置及び半導体演算装置 小林大輔, 柴田直 特願2017-046514 半導体装置 松浦大介, 成田貴則, 加藤昌浩, 小林大輔, 廣瀬和之, 川崎治, 梯 友哉, 伊藤大智 特願2017-109264 磁気抵抗メモリ素子及び磁気抵抗メモリ回路 小林大輔, 廣瀬和之, 伊藤大智, 梯友哉 特願2018-114846 半導体装置 成田貴則, 松浦大介, 石井茂, 小林大輔, 廣瀬和之, 川崎治 特願2018-197684 半導体メモリの放射線耐性補償装置及びその方法並びに電子回路 毛利伊晴, 草野 将樹, 松浦大介, 小林大輔, 廣瀬和之, 川崎治 学術貢献活動 18 RADNEXT Facility Webinar Co-organizer 企画立案・運営等, パネル司会・セッションチェア等 (A Guide to Japan for SEE Travelers) 2022年12月13日 - 2022年12月13日 IEEE NSREC Award Committee 審査・評価 (Provo, UT, USA) 2022年 IEEE NSREC Session Chair パネル司会・セッションチェア等 (Basic Mechanisms and Radiation Effects) 2022年 IRPS Session Chair パネル司会・セッションチェア等 (Soft Errors Session) 2021年 RADECS Session Co-Chair パネル司会・セッションチェア等 (Hardening Techniques Session) 2021年 もっとみる メディア報道 8 びっくりするコンピューターと魔法の方程式 宇宙航空研究開発機構宇宙科学研究所 ISASニュース 2023年8月 会誌・広報誌 IEEEメンバーが提言 宇宙空間における半導体研究の専門家 国立研究開発法人宇宙航空研究開発機構 宇宙科学研究所 小林 大輔准教授 IEEE @Press 2023年7月31日 インターネットメディア 「魔法の方程式」で「びっくりするコンピュータ」の問題を解決! 宇宙科学研究所 あいさすGATE 2022年11月 インターネットメディア 耐放射線性に優れた半導体「SOI-SOC MPU」の開発 宇宙航空研究開発機構 JAXA's JAXA TIMES 2022年9月30日 会誌・広報誌 A Microprocessor Tough Enough for Space Missions D. Kobayashi, K. Hirose, and H. Saito SPIE Newsroom 2013年6月 インターネットメディア もっとみる ● 専任大学名 1 専任大学名 総合研究大学院大学(SOKENDAI) 1
小林 大輔コバヤシ ダイスケ (Daisuke KOBAYASHI) ダウンロードする帳票の形式を下記より選択して下さい 「教育研究等環境」形式 「文科省帳票様式第4号 ①履歴書」形式 「文科省帳票様式第4号 ②教育研究業績書」形式 基本情報 所属国立研究開発法人宇宙航空研究開発機構 宇宙科学研究所 宇宙機応用工学研究系 准教授学位博士(科学)(2005年3月 東京大学)研究者番号90415894ORCID ID https://orcid.org/0000-0002-0140-8820J-GLOBAL ID200901096574214055researchmap会員ID5000089715私たちの生活になくてはならないコンピュータとそこで計算を担当するコンピュータチップ.これらに対して私たちは「いつも正確で信頼できる」と言う印象を持っていますが,実はそれは多くの研究者達の努力の成果ということ,ご存知でしたか?突然のショックにびっくりして記憶を失ってしまう繊細なチップを,そうならないように鍛え上げる努力がなされています.びっくりして記憶を失ってしまう様子は,専門的には「ソフトエラー」とか「シングルイベントアップセット」と呼ばれますが,これらの専門用語からは何が起きているかイメージしにくいので,私は「びっくりするコンピュータ」と呼んでいます.びっくりさせる原因は何でしょうか.いくつかありますが,宇宙で光る星はその一つです.高いエネルギーを持った目に見えない星のかけらがそこから飛び出して宇宙空間を飛んでいます.地球に届くものもあります.それらがコンピュータチップ にショック(具体的には電気ショック)を与えてしまいます.研究者達はコンピュータを安心して使えるように,そのショックへの対策を考えています.地上の事を専門に考える研究者と宇宙の事を専門に考える研究者がいて,お互い情報を交換しながら取り組んでいます.私は,今はJAXA宇宙研で働いているので宇宙の事を主に考えています.宇宙でコンピュータを使うには,びっくりする事以外にも考えないといけないことがあります.これは「ぐったりするコンピュータ」と呼んでいます.それらをまとめて「スペースチップ工学」と呼びましょうか.これが現在の私の研究テーマです. 研究キーワード 11 びっくりするコンピュータ ぐったりするコンピュータ 宇宙電子工学 スペースチップ工学 極限環境IoT ソフトエラー 宇宙線 放射線 信頼性 大規模集積回路 センサ・半導体デバイス 研究分野 1 ものづくり技術(機械・電気電子・化学工学) / 電子デバイス、電子機器 / 経歴 8 2023年4月 - 現在 東京大学大学院 工学系研究科 電気系工学専攻 准教授 2019年11月 - 現在 国立研究開発法人宇宙航空研究開発機構 宇宙科学研究所 宇宙機応用工学研究系 准教授 2017年7月 - 現在 国立研究開発法人宇宙航空研究開発機構 研究開発部門 第一研究ユニット 2020年3月 - 2023年3月 総合研究大学院大学 物理科学研究科 准教授 2011年4月 - 2019年12月 東京大学大学院 工学系研究科 電気系工学専攻 助教 もっとみる 学歴 2 2000年4月 - 2005年3月 東京大学 大学院新領域創成科学研究科 基盤情報学専攻 1996年4月 - 2000年3月 東京大学 工学部 電子工学科 委員歴 1 2013年 - 2020年3月 科学技術専門家ネットワーク 専門調査員 受賞 8 2022年 IEEE Nuclear and Space Radiation Effects Conference Outstanding Conference Paper Award An SRAM SEU Cross Section Curve Physics Model D. Kobayashi, K. Hirose, K. Sakamoto, Y. Tsuchiya, S. Okamoto, S. Baba, H. Shindou, O. Kawasaki, T. Makino, T. Ohshima 2019年 IEEE Nuclear and Space Radiation Effects Conference Award Basics of single event effect mechanisms and predictions IEEE Nuclear and Space Radiation Effects Conference Committee 小林 大輔 2018年 応用物理学会シリコンテクノロジー分科会論文賞 Heavy-ion soft-errors in back-biased thin-BOX SOI SRAMs: Hundredfold sensitivity due to line-type multi-cell upset 応用物理学会 シリコンテクノロジー分科会 小林 大輔, 廣瀬 和之, 伊藤 大智, 梯 友哉, 川崎 治, 牧野 高紘, 大島 武, 松浦 大介, 成田 貴則, 加藤 昌浩, 石井 茂, 益川 一範 2015年 宇宙科学研究所長賞 超小型深宇宙探査機(PROCYON)の開発 国立研究開発法人宇宙航空研究開発機構・宇宙科学研究所 冨木 淳史, 福島 洋介, 川勝 康弘, 小林 雄太, 中塚 潤一, 三田 信, 小林 大輔, 野々村 拓, 伊藤 大智, 伊藤 琢博 2011年 宇宙科学奨励賞 宇宙機用LSIの動作を阻害する放射線パルスノイズの解明とモデル化 公益財団法人宇宙科学振興会 小林 大輔 もっとみる 論文 46 査読付き学術雑誌論文のみ掲載 2222年 Threshold and Characteristic LETs in SRAM SEU Cross-Section Curves Daisuke Kobayashi, Masashi Uematsu, Kazuyuki Hirose IEEE Transactions on Nuclear Science 70(4) 707-713 2023年4月 査読有り筆頭著者責任著者 An SRAM SEU Cross Section Curve Physics Model Daisuke Kobayashi, Kazuyuki Hirose, Keita Sakamoto, Yuta Tsuchiya, Shogo Okamoto, Shunsuke Baba, Hiroyuki Shindou, Osamu Kawasaki, Takahiro Makino, Takeshi Ohshima IEEE Transactions on Nuclear Science 68(3) 232-240 2022年3月 査読有り筆頭著者責任著者 Investigation of buried-well potential perturbation effects on SEU in SOI DICE-based flip-flop under proton irradiation Keita Sakamoto, Masaki Kusano, Takanori Narita, Shigeru Ishii, Kazuyuki Hirose, Shunsuke Baba, Daisuke Kobayashi, Shogo Okamoto, Hiroyuki Shindou, Osamu Kawasaki, Takahiro Makino, Yoshiharu Mori, Daisuke Matuura IEEE Transactions on Nuclear Science 68(6) 1222-1227 2021年 査読有り Scaling trends of digital single-event effects: A survey of SEU and SET parameters and comparison with transistor performance Daisuke Kobayashi IEEE Transactions on Nuclear Science 68(2) 124-148 2021年 査読有り筆頭著者責任著者 もっとみる MISC 5 Exploring magic equations for soft-error reliability Daisuke Kobayashi, Kazuyuki Hirose JSAP Review 2023 2023年9月2日 招待有り筆頭著者責任著者 魔法のソフトエラー信頼性方程式を探して 小林大輔, 廣瀬和之 応用物理 92(2) 89-93 2023年2月 宇宙で活躍する半導体デバイス 廣瀬和之, 小林大輔 応用物理 83(8) 655-659 2014年8月 宇宙・民生デュアルユースの半導体集積回路の開発—SOIデバイスの放射線耐性強化技術— 廣瀬 和之, 齋藤 宏文, 小林 大輔, 黒田 能克, 石井 茂, 高橋 大輔 日本航空宇宙学会誌 59(684) 8-14 2011年1月 宇宙用半導体部品とその耐放射線化技術 廣瀬 和之, 三ツ石 進, 小林 大輔 電気学会誌 129(11) 739-742 2009年11月 書籍等出版物 3 Predicting, Characterizing, and Mitigating SEE in Advanced Semiconductor Technologies (IEEE NSREC Short Course Notebook) Steven C. Moss, Daisuke Kobayashi, Arto Javanainen, Dale McMorrow, Stephen LaLumondiere, Manuel Cabanas-Holman (担当:分担執筆, 範囲:Basics of single event effect mechanisms and predictions) 2019年 電気特性の測定、評価とデータ解釈 廣瀬和之, 小林大輔 (担当:共著, 範囲:X線光電子分光による誘電率の推定法) 技術情報協会 2015年 ナノエレクロノニクスにおける絶縁超薄膜技術—成膜技術と膜・界面の物性科学 廣瀬和之, 小林大輔 (担当:共著, 範囲:X線光電子分光と第一原理分子軌道計算によるMOS界面局所構造の物性研究 誘電率と絶縁破壊) 株式会社エヌ・ティー・エス 2012年 講演・口頭発表等 65 Waveform observation of digital single-event transients employing monitoring transistor technique D. Kobayashi, K. Hirose, Y. Yanagawa, H. Ikeda, H. Saito, V. Ferlet, Cavrois, P. Paillet, D. McMorrow, Y. Arai, M. Ohno IEEE Nuclear and Space Radiation Effects Conference (NSREC) paper A-4 Scan-architecture-based evaluation technique of SET and SEU soft-error rates at each flip-flop in logic VLSI systems Y. Yanagawa, D. Kobayashi, H. Ikeda, H. Saito, K. Hirose Conference on Radiation Effects on Components and Systems (RADECS) paper A-4 Feasibility study of a table-based SET-pulse estimation in logic cells from heavy-ion-induced transient currents measured in a single MOSFET D. Kobayashi, K. Hirose, H. Ikeda, H. Saito IEEE Nuclear and Space Radiation Effects Conference (NSREC) paper H-6 Relationship between optical dielectric constant and XPS relative chemical shift of 1s and 2p levels for dielectric conpounds K. Hirose, H. Suzuki, H. Nohira, E. Ikenaga, D. Kobayashi, T. Hattori International Vacuum Congress, 13th International Conference on Surface Science, and International Conference on Nano Science and Technology Fast and physically-accurate estimation of single event transient pulses from radiation- induced transient currents measured in a single MOSFET: a simulation-based case study in bulk CMOS logic circuits D. Kobayashi, K. Hirose, H. Ikeda, H. Saito IEEE Workshop on Silicon Errors in Logic – System Effects (SELSE) High-k gate dielectric films studied by extremely asymmetric X-ray diffraction and X-ray photoelectron spectroscopy Y. Ito, K. Akimoto, H. Yoshida, T. Emoto, D. Kobayashi, K. Hirose International Workshop on Dielectric Thin Films for Future ULSI Devices – Science and Technology (IWDTF) paper P2-15 X-ray photoelectron spectroscopy study on dielectric properties of AlN and Al$_2$O$_3$ films K. Hirose, H. Suzuki, T. Matsuda, Y. Takenaga, H. Nohira, E. Ikenaga, D. Kobayashi, T. Hattori International Workshop on Dielectric Thin Films for Future ULSI Devices – Science and Technology (IWDTF) paper P1-5 X-ray photo-electron spectroscopy study on dielectric properties at gate insulator film/Si interfaces K. Hirose, H. Nohira, D. Kobayashi, T. Hattori International Conference on Solid-State and Integrated Circuit Technology 招待有り paper B2.3 Estimation of single event transient voltage pulses in VLSI circuits from heavy-ion-induced transient currents measured in a single MOSFET D. Kobayashi, H. Saito, K. Hirose Workshop on Radiation Effects on Components and Systems (RADECS) postdeadline paper LN-6 Direct measurement of SET pulse-widths in 0.2-$\mu$m SOI logic cells irradiated by heavy ions Y. Yanagawa, K. Hirose, H. Saito, D. Kobayashi, S. Fukuda, S. Ishii, D. Takahashi, K. Yamamoto, Y. Kuroda IEEE Nuclear and Space Radiation Effects Conference (NSREC) postdeadline paper PE-12L Time-domain component-analysis of heavy-ion-induced transient-currents in FD-SOI MOSFETs D. Kobayashi, M. Aimi, H. Saito, K. Hirose IEEE Nuclear and Space Radiation Effects Conference (NSREC) postdeadline paper PC-14L A convex-corner preservation principle in bulk micromachining and its application to nano-point needles Y. Mita, D. Kobayashi, T. Shibata International Conference on Solid-State Sensors, Actuators and Microsystems (Transducers ’03) High-precision metal-on-insulator micro spires for use in nonmagnetic-probe magnetic microscopy D. Kobayashi, Y. Mita, T. Shibata, T. Bourouina, H. Fujita, P. Beauvillain Micromechanics Europe Workshop (MME’03) A ferroelectric analog associative memory technology employing hetero-gate floating-gate-MOS structure D. Kobayashi, T. Shibata, Y. Fujimori, T. Nakamura, H. Takasu Symposium on VLSI Technology A fast self-convergent flash-memory programming scheme for MV and analog data storage T. Yamasaki, A. Suzuki, D. Kobayashi, T. Shibata IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS 2001) «12 担当経験のある科目(授業) 2 2023年 宇宙電気電子システム工学 (東京大学工学部) 2021年 宇宙工学概論 (総合研究大学院大学 物理科学研究科 宇宙科学専攻) 所属学協会 5 IEEE Electron Devices Society Japan Society of Applied Physics IEEE Nuclear and Plasma Sciences Society IEEE Solid-State Circuits Society Institute of Electronics, Information and Communication Engineers 共同研究・競争的資金等の研究課題 8 放射線を当てずに放射線ソフトエラー信頼性を評価する技術 日本学術振興会 科学研究費助成事業 基盤研究(B) 2023年4月 - 2026年3月 小林 大輔, 牧野 高紘 高信頼性LSIの開発コスト削減に向けたソフトエラー耐性スクリーニングの実現 日本学術振興会 科学研究費助成事業 基盤研究(B) 2020年4月 - 2023年3月 小林 大輔, 牧野 高紘 光電子分光法を用いた極薄SiO$_2$/Si界面の欠陥とアモルファス構造の研究 日本学術振興会 科学研究費助成事業 基盤研究(C) 2014年4月 - 2017年3月 廣瀬 和之, 野平 博司, 小林 大輔 放射線による過渡的な局所昇温現象とそのソフトエラー耐性への影響 日本学術振興会 科学研究費助成事業 基盤研究(C) 2012年4月 - 2015年3月 小林 大輔, 廣瀬 和之 硬X線光電子分光法と第一原理計算を用いた極薄酸化膜の光学的誘電率の研究 日本学術振興会 科学研究費助成事業 基盤研究(B) 2009年 - 2011年 廣瀬 和之, 野平 博司, 小林 大輔 もっとみる 産業財産権 5 特開2002-246487 半導体装置及び半導体演算装置 小林大輔, 柴田直 特願2017-046514 半導体装置 松浦大介, 成田貴則, 加藤昌浩, 小林大輔, 廣瀬和之, 川崎治, 梯 友哉, 伊藤大智 特願2017-109264 磁気抵抗メモリ素子及び磁気抵抗メモリ回路 小林大輔, 廣瀬和之, 伊藤大智, 梯友哉 特願2018-114846 半導体装置 成田貴則, 松浦大介, 石井茂, 小林大輔, 廣瀬和之, 川崎治 特願2018-197684 半導体メモリの放射線耐性補償装置及びその方法並びに電子回路 毛利伊晴, 草野 将樹, 松浦大介, 小林大輔, 廣瀬和之, 川崎治 学術貢献活動 18 RADNEXT Facility Webinar Co-organizer 企画立案・運営等, パネル司会・セッションチェア等 (A Guide to Japan for SEE Travelers) 2022年12月13日 - 2022年12月13日 IEEE NSREC Award Committee 審査・評価 (Provo, UT, USA) 2022年 IEEE NSREC Session Chair パネル司会・セッションチェア等 (Basic Mechanisms and Radiation Effects) 2022年 IRPS Session Chair パネル司会・セッションチェア等 (Soft Errors Session) 2021年 RADECS Session Co-Chair パネル司会・セッションチェア等 (Hardening Techniques Session) 2021年 もっとみる メディア報道 8 びっくりするコンピューターと魔法の方程式 宇宙航空研究開発機構宇宙科学研究所 ISASニュース 2023年8月 会誌・広報誌 IEEEメンバーが提言 宇宙空間における半導体研究の専門家 国立研究開発法人宇宙航空研究開発機構 宇宙科学研究所 小林 大輔准教授 IEEE @Press 2023年7月31日 インターネットメディア 「魔法の方程式」で「びっくりするコンピュータ」の問題を解決! 宇宙科学研究所 あいさすGATE 2022年11月 インターネットメディア 耐放射線性に優れた半導体「SOI-SOC MPU」の開発 宇宙航空研究開発機構 JAXA's JAXA TIMES 2022年9月30日 会誌・広報誌 A Microprocessor Tough Enough for Space Missions D. Kobayashi, K. Hirose, and H. Saito SPIE Newsroom 2013年6月 インターネットメディア もっとみる ● 専任大学名 1 専任大学名 総合研究大学院大学(SOKENDAI) 1