小橋 昌司

皮質形成異常に起因する難治てんかんの外科的治療には，小児頭部MR画像からの皮質形成異常領域の検出は非常に有効である．しかし，皮質形成異常のMR画像上での画像特徴は明らかでなく，またその自動検出手法も未だ確立されていない．本文では，脳の皮質構造を評価するため，脳表に直交する評価単位領域を構築し，各領域のテクスチャ特徴量を算出し，Support Vector Machine (SVM) を用いて皮質形成異常度推定法を提案する．同提案法において，識別精度が最大となる特徴量の組み合わせを求めることで，皮質形成異常のMR画像上での画像特徴を調査する．また，本手法を適用した結果，皮質形成異常を有する小児頭部MR画像から，平均感度68％で皮質形成異常領域を検出できた．